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  • 专利名称:一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法
  • 专利号:ZL 201810089435.6
  • 专利类型:发明专利
  • 数据类型:开放许可
  • 所属分类:物理
  • 主分类号:G01J 3/28
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(权利)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 授权公告日:2019-09-27
  • 申请日:2018-01-30
  • 价格:一次付清元

开放许可详情

费用支付标准采用一次总付的方式,在合同生效后30日内一 次性全额支付所有使用费100000元。费用支付方式一次付清
生效日2025-10-21许可期限届满日2038-01-29
声明编号XK2025980010557

联系信息

联系人姓名:沈蓓丽 邮编:200083 地址:上海市虹口 区玉田 路500 号 电 子邮 箱:shenbl@ mail.sitp.ac.cn 电话:13636349245